光子技术新突破!Santec推出SPA-110扫频分析仪
Santec Holdings Corporation,一家在先进光学组件、可调谐激光器、光学测试设备以及OCT系统领域处于领先地位的制造商,最近宣布了他们的新产品——扫频光子分析仪SPA-110的发布。SPA-110结合了Santec市场领先的可调谐激光器技术和光频域反射计(OFDR)技术,能够对紧凑型光纤和光子设备进行插入损耗和回波损耗的分析,空间分辨率高达5微米以下。
SPA-110在其前代产品SPA-100的基础上进行了改进,将总测量范围从5米扩展到了30米。这一改进使得系统可以添加光学信号调节设备,如偏振控制器和光开关,这些设备被纳入光纤配置中。此项增强特别适合于对像硅光子电路、光纤组件以及紧凑光纤组件等小型设备进行更全面的表征。
此外,扫描长度的扩展,还允许分析更长的、组件紧密排列的光纤电缆组件,在这样的环境下,传统的OTDR技术可能难以区分它们之间的差异。
最后,其在波长依赖损耗(WDL)测量中达到80 dB的动态范围,使检测到更微弱的反射事件成为可能。
产品特点亮点包括:
- 30米的测量范围,是集成到光子设备测试系统中的理想选择。
- 高空间分辨率:在硅中空间分辨率低于5μm。
- WDL测量的宽动态范围:WDL测量的动态范围优于80 dB。
- 辅助OPM端口:集成外部OPM,便于自动对准波导。
- 可配置性:提供O带和CL带选项。
- 近距离感测:使用OFDR技术感测光纤探头与晶圆之间的距离。
- 容易的分析流程:直观的软件用于分析感兴趣的区域,对扫描的不同部分应用不同的折射率,测量IL和RL,存储/加载以前的数据以供进一步分析。
随着光纤通信和光子技术的不断进步,Santec的SPA-110扫频分析仪无疑为相关领域的研究与开发提供了强大的技术支持。
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